8. 0 ensaio de difração de raios-X (DRX) é utilizado na caracterização de diversos tipos de materiais. Os dados são apresentados em um gráfico de intensidade dos Raios-X detectados em função do ângulo do detector , formando picos cara cterísticos de cada material. Sobre esse ensaio, é correto afirmar: A. () O espaçamento entre os picos corresponde a uma medida direta do espaçamento entre os átomos na estrutura cristalina. B. () A análise de um material A , semicristalino, quando comparada a uma segunda análise do mesmo material A, porém , cristalino , apresentará picos característicos com maior intensidade. C. () Através do referido ensaio, é possivel caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e semicristalinos. D. () O ensaio pode ser utilizado na caracterização de um material amorfo , desde que este apresente uma estrutura ordenada de longo alcance.

Question

8. 0 ensaio de difração de raios-X (DRX) é utilizado na caracterização de diversos tipos de materiais. Os dados são apresentados em um gráfico de intensidade dos Raios-X detectados em função do ângulo do detector , formando picos cara cterísticos de cada material. Sobre esse ensaio, é correto afirmar: A. () O espaçamento entre os picos corresponde a uma medida direta do espaçamento entre os átomos na estrutura cristalina. B. () A análise de um material A , semicristalino, quando comparada a uma segunda análise do mesmo material A, porém , cristalino , apresentará picos característicos com maior intensidade. C. () Através do referido ensaio, é possivel caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e semicristalinos. D. () O ensaio pode ser utilizado na caracterização de um material amorfo , desde que este apresente uma estrutura ordenada de longo alcance.

Answer 1

C. Através do referido ensaio, é possível caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e semicristalinos.Explicação: O ensaio de difração de raios-X (DRX) é uma técnica amplamente utilizada na caracterização de materiais cristalinos e semicristalinos. Através da análise dos picos de intensidade em função do ângulo do detector, é possível obter informações sobre a estrutura cristalina do material, como o espaçamento entre os planos de reticulação e a disposição dos átomos na estrutura. No entanto, o espaçamento entre os picos não corresponde diretamente à medida do espaçamento entre os átomos, pois depende também da intensidade do feixe de raios-X e da sensibilidade do detector. Portanto, a opção A está incorreta.A opção B está incorreta, pois a análise de um material semicristalino apresentará picos com menor intensidade em comparação com um material cristalino, devido à menor organização da estrutura cristalina.A opção D está incorreta, pois o ensaio de DRX é utilizado principalmente na caracterização de materiais cristalinos. Materiais amorfos, que não possuem uma estrutura cristalina ordenada, não apresentam padrões de difração característicos e, portanto, não podem ser caracterizados por esse método.

Question

Solution

Resposta